GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》
Environmental testing - Part 2: Test methods - Tests A: Cold
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2423.1-2008
發(fā)布單位或類別：中國(guó)-國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（CN-GB）
發(fā)布日期：2008-12-30
實(shí)施日期：2009-10-01
CCS分類：K04 電工 - 電工綜合 - 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法
ICS分類：K04 電工 - 電工綜合 - 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
起草單位：廣州電器科學(xué)研究院;
起草人：張志勇;
本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本部分代替GB/T 2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：——?jiǎng)h除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；——?jiǎng)h除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；——增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電
產(chǎn)品類別：電器